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芯片缺陷检测
Application scenario

随着半导体技术的发展,对芯片的良率要求越来越高。然而集成电路芯片制造工艺复杂,其制造过程中往往产生很多缺陷,因此缺陷检测是集成电路制造过程中的必备工艺。

Customer demand

小体积,低功耗 2 x USB,1 x LAN Core-i平台无风扇整机 可以支持-10~60度的操作温度 保证7*24小时不间断运行

Product characteristics

采用Intel® Celeron系列 4305UE处理器,主频2.0GHz 支持Intel 3个千兆RJ45网口 支持DP+HDMI双显,同步/异步显示,支持4K Default 12V DC-IN输入,可锁附的DC-IN接口 整机采用铝合金材质,散热效果优异 支持-10~60℃的宽温运行环境,可以满足严苛的工业环境应用要求

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